Principios de microscopía electrónica de barrido y microanálisis por rayos X característicos
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Principios de microscopía electrónica de barrido y microanálisis por rayos X característicos

Autores:
González Mancera, Guillermina / Noguez Amaya, María Eugenia

Editor/Coeditor(es):
Facultad de Química
Descripción / Resumen
El microscopio electrónico de barrido (SEM) por su capacidad para proporcionar información morfológica, topográfica, química, cristalográfica, eléctrica y magnética de muestras másicas, ha contribuido considerablemente al dominio de la Física del estado sólido, de la ciencia de materiales, de la electrónica, de los polímeros, de los textiles, de la Biología, Medicina y cirugía dental, etc.
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eBook ISBN 9786073080866
$20

Especificaciones por formato:

ISBN/ISSN: 9786073080866

Editor/Coeditor(es): Facultad de Química

Edición o Número de Reimpresión: 1 edición, año de edición -2023-

Tema: Química

Tamaño: 45 Mb

Extensión de fichero: 9786073080866

Terminado o acabado: epub

Idioma: Español

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